1、并聯(lián)IGBT的直流母線側連接點的電阻分量,因此需要盡量對稱;
2、IGBT芯片的Vce(sat)和二極管芯片的VF的差異,因此盡量采取同一批次的產(chǎn)品。
3、IGBT模塊所處的溫度差異,設計機械結構及風道時需要考慮;
4、IGBT模塊所處的磁場差異;
5、柵極電壓Vge的差異。
1、IGBT模塊的開通門檻電壓VGEth的差異,VGEth越高,IGBT開通時刻越晚,不同模塊會有差異;
2、每個并聯(lián)的IGBT模塊的直流母線雜散電感L的差異;
3、門極電壓Vge的差異;
4、門極回路中的雜散電感量的差異;
5、IGBT模塊所處溫度的差異;
6、IGBT模塊所處的磁場的差異。
IGBT芯片的溫度對于動態(tài)均流性能和靜態(tài)均流性能影響很大:
1、由于IGBT的Vcesat的正溫度系數(shù)特性,使溫度高的芯片的Vcesat更高,會分得較少的電流,因此形成了一個負反饋,使靜態(tài)均流趨于收斂;
2、根據(jù)我們的經(jīng)驗,我們發(fā)現(xiàn),芯片溫度變高后,動態(tài)均流的性能也會變好;例如在測試動態(tài)均流時,我們會使用雙脈沖測試方法,但這時芯片是處于冷態(tài)的,當把機器跑起來后,動態(tài)均流會改善。
IGBT模塊附近如果有強磁場,則模塊的均流會受到影響。
1、如果兩個IGBT模塊并聯(lián)且并列安裝,如果交流排的輸出電纜在擺放時靠近其中某一個IGBT模塊而遠離另外一個,則均流性能就會出問題;
2、以上現(xiàn)象的原因是某個大電流在導線上流動時會產(chǎn)生磁場,對磁場內(nèi)的其他導通的電流產(chǎn)生“擠出”或“吸引”的效應;
因此,在結構設計時,需要注意交流排出線的走線形式,以免發(fā)生磁場的干涉現(xiàn)象。